Characterisation of irradiated thin silicon sensors for the CMS phase II pixel upgrade

Julkaisussa: European Physical Journal C. Particles and Fields
Tekijät: Adam, W.; Bergauer, T.; Brondolin, E.; Dragicevic, M.; Friedl, M.; Fruehwirth, R.; Hoch, M.; Hrubec, J.; Koenig, A.; Steininger, H.; Waltenberger, W.; Alderweireldt, S.; Beaumont, W.; Janssen, X.; Lauwers, J.; Van Mechelen, P.; Van Remortel, N.; Van Spilbeeck, A.; Beghin, D.; Brun, H.
Tekijöiden määrä: 50
Kieli: englanti
Julkaisutyyppi: A1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä
Julkaisufoorumiluokka : 2
JUFO-ID: 55838
Julkaisuvuosi: 2017
ISSN: 1434-6044
1434-6052
Emojulkaisun nimi: European Physical Journal C. Particles and Fields
Volyymi: 77
Numero: 8
Tieteenala: Luonnontieteet
Fysiikka
Paikalliset tekijät ja heidän affiliaationsa: Tuominen, E. - Helsingin yliopisto, Matemaattis- luonnontieteellinen tiedekunta
Tuovinen, E. - Helsingin yliopisto, Matemaattis- luonnontieteellinen tiedekunta
Härkönen, J. - Helsingin yliopisto, Matemaattis- luonnontieteellinen tiedekunta
Eerola, P. - Helsingin yliopisto, Matemaattis- luonnontieteellinen tiedekunta
Luukka, P. - Helsingin yliopisto, Matemaattis- luonnontieteellinen tiedekunta
Lampen, T. - Helsingin yliopisto, Matemaattis- luonnontieteellinen tiedekunta
Peltola, T. - Helsingin yliopisto, Matemaattis- luonnontieteellinen tiedekunta
Sarja: European Physical Journal C. Particles and Fields
Linkit: http://hdl.handle.net/10138/225940
https://dx.doi.org/10.1140/epjc/s10052-017-5115-z
Organisaation sisäinen affiliaatio: Helsingin yliopisto, Matemaattis- luonnontieteellinen tiedekunta